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荧光测厚仪

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荧光测厚仪

荧光测厚仪,即x射线荧光镀层测厚仪,利用X-射线照射物体待测部位,从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线,检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号,经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。
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